梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平

產(chǎn)品描述：

一、梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平采用高精度、高分辨率后置式傳感器，獲得準確稱量結果；
二、全自動校準技術(FACT),溫度漂移和工廠時間設置觸發(fā)的內置砝碼自動校準，以及全自動線性校準技術，獲得精確稱量結果；
三、變量程設置（Deltarange)和雙量程（Dualrange)設計，滿足不同樣品的稱量需求；
四、觸摸屏設計（Touchscreen),方便稱量菜單和參數(shù)設置；
五、網(wǎng)絡稱盤（Smartgrid)、獲得快速、穩(wěn)定的稱量結果；
六、易巧稱量組件（Ergoclips),滿足使用不同去皮容器的稱量需求；
七、可移動的顯示控制終端，方便使用；
八、具備*可拆卸的防風罩設計，實現(xiàn)快速清潔；
九、內置RS232C通訊接口選件槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備；
十、優(yōu)化天平適應性的稱量參數(shù)設置、滿足不同稱量環(huán)境要求；

十一、具有基礎稱量、統(tǒng)計稱量、配方稱量、密度測定等內置應用程序
十二、E-loader軟件，實現(xiàn)天平軟件的即使更新。

技術指標